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The Latest Testing Methods and Solutions in Wide BandGap
编号：133
访问权限：仅限参会人
更新：2021-08-24 10:47:11
浏览：694次
口头报告
报告开始：2021年08月27日 10:50（Asia/Shanghai）
报告时间：25min
所在会场：[IS] Industry Session [IS] Industry Session
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摘要
The Latest Testing Methods and Solutions in Wide BandGap
关键词
暂无
报告人
Wanner Huang
Tektronix Senior Bus Tektronix(China)Co.,Ltd.全部评论
重要日期
-
会议日期
08月25日
2021
至08月27日
2021
-
04月21日 2021
摘要截稿日期
-
05月15日 2021
摘要录用通知日期
-
06月25日 2021
终稿截稿日期
-
08月24日 2021
报告提交截止日期
-
08月27日 2021
注册截止日期
主办单位
IEEE
IEEE ELECTRONIC DEVICE SOCIETY
IEEE ELECTRONIC DEVICE SOCIETY
承办单位
Huazhong University of Science and Technology
联系方式
- Dr. 刘老师
- li******@vip.163.com
历届会议
-
2025年08月15日 中国 Beijing
The 2025 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia -
2025年08月15日 中国 Beijing
2025 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia -
2023年08月27日 台湾-中国 Hsinchu
2023 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia -
2018年05月17日 中国 xian
IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia
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